光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于最佳的椭偏光路设计，高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数，光学带宽等。

光谱椭偏仪 - 产品特点
■ 连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间
■ 更简便快捷的样品准直方法
■ 软件具备丰富的材料数据库
■ 允许用户自定义色散模型，更方便用户研究新材料的光学性质
■ 全波长多角度同时数据拟合，模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析
■ 具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
■ 光谱范围宽达250 - 1100 (可扩展至250-1700)
■ 功能强大的光谱椭偏测量与分析软件