NCS-R80 无接触厚度电阻率测试仪是一款用于硅片的厚度、电阻率测量的专业仪器，该仪器适用于Si，GaAs，Ge等几乎所有的材料，所有的设计都符合标准，确保与其他工艺仪器的兼容与统一。

特征

■无接触无损伤测量

■电阻率和厚度同时测量

■适用的晶圆材料包括Si，GaAs，Ge等几乎所有的材料

■电脑触摸屏显示

■抗干扰强，稳定性好                                       

■强大的工控机控制和大屏幕显示

■一体化设计操作更方便，系统稳定

■为晶圆硅片关键生产工艺提供确的无接触测量